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日本JEOL 场发射电子探针显微分析仪 JXA-8530F Plus 产品关键词:jeol电子探针;场发射电子探针价格;场发射电子探针;jxa电子探针;日本电子8530;日本电子8530f;日本...

日本JEOL场发射电子探针显微分析仪JXA-8530FPlus产品特点:·肖特基场发射电子探针Plus·JXA-8530FPlus采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-11-04
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产品详情

日本JEOL 场发射电子探针显微分析仪 JXA-8530F Plus



产品特点:



· 肖特基场发射电子探针Plus

· JXA-8530F Plus采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。



· 灵活的WDS配置

· X射线波谱仪可以选择140 R或100 R罗兰圆, 罗兰圆半径为140 mm的XCE/L型X射线谱仪检测范围宽,波长分辨率高和P/ B比优异,100 mm的H型X射线谱仪具有X射线衍射强度高的特点,可以根据需要选择使用。



· 高级软件

· 新开发了多种基于Windows操作系统的软件,其中包括:能使痕量元素分析更加简便的“痕量元素分析程序"、能自动制作相图的“相图制作器"以及只需简单输入就能对表面凹凸不平样品进行测试的“不平坦样品的分析程序"等。

· 备注:Windows7® 为美国微软公司在美国及其它国家的注册商标或商标。




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