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德国Bruker Contour X 白光干涉光学轮廓仪 台式光学设备

德国BrukerContourX白光干涉光学轮廓仪•样品尺寸:•150mmx150mmx92mm•承载4.5kg•垂直分辨率:•横向分辨:•0.3µm(±150nm)•AcuityXR0.15µm(±75nm)•基于白光干涉原理

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-11-04
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德国Bruker Contour X 白光干涉光学轮廓仪



•样品尺寸:

•150 mm x 150 mm x 92 mm

•承载 4.5 kg

•垂直分辨率:
•横向分辨:

•0.3µm (±150nm)

•AcuityXR 0.15µm (±75nm)

•基于白光干涉原理,结果可溯源



白光干涉技术内在优势:
























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