KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统声学显微成像系统和光学显微成像系统的结合-换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率-探测深度-特殊平均模式使信噪比更好-同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性

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