激光开封技术也可以在不破坏芯片或者电路的整体功能的前提下，去除局部的塑封材料，进行测试甚至修复实验。与化学开封技术相比，激光开封更加高效，同时避免了减少强酸环境暴露。基本原理：芯片激光开封机的工作原理是利用高能激光蚀刻掉芯片或者电子元器件的塑封外壳，从而光学观测或者电气性能测试提供了可能性，以便于实现X射线等无损检测无法实现的功能。

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厂商性质：经销商
更新时间：2023-02-21
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激光开封技术也可以在不破坏芯片或者电路的整体功能的前提下，去除局部的塑封材料，进行测试甚至修复实验。与化学开封技术相比，激光开封更加高效，同时避免了减少强酸环境暴露。

基本原理：

芯片激光开封机的工作原理是利用高能激光蚀刻掉芯片或者电子元器件的塑

封外壳，从而光学观测或者电气性能测试提供了可能性，以便于实现X射线等无损检测无法实现的功能。
激光开封技术也可以在不破坏芯片或者电路的整体功能的前提下，去除局部的塑封材料，进行测试甚至修复实验。与化学开封技术相比，激光开封更加高效，同时避免了减少强酸环境暴露。

应用领域：
去除半导体芯片的塑封外壳，PCB板截面切割，以及其它类似的破坏性物理试验或失效分析场景。

产品优势：

来自德国的高精密激光扫描头（SCANLAB）
激光脉冲宽度可调（1ns-250ns）
激光系统与CCD视觉系统同轴共焦，实时观测激光扫描过程
可直接导入X-Ray或者超声波扫描图像，为复杂定点开封提供支持
强大的软件功能，保证了定位、区域标定、聚焦、参数设定、条码绘制等功能得以简洁可靠地实现
高性能烟尘过滤系统，自动震动防堵，可过滤98%以上0.3um直径的环氧树脂颗粒

技术参数：
型号	GLOBAL ETCH II ML-20	扫描范围	110mm x 110mm
激光类型	风冷式光纤激光器	实时操作模式	同轴和共焦
激光波长	1064nm	样品尺寸	0.5mm - 70mm
功率	20W	激光寿命	≥ 80000小时
输出功率范围	1% ~ 99%	设备安全等级	Class I （互锁）
脉冲宽度	1ns-250ns	烟尘过滤器	1.8kPa，0.3μ的颗粒
光束质量	M2 ≤ 1.3	设备尺寸	700 x 1000 x 1700mm
单次开封深度	0.01mm~2mm	压缩气体	大于0.3MPa（同时吹吸，油水分离）
开封速度	≥ 8000mm/s	相机	1500万像素彩色照相机
激光频率	1Khz-2000Khz	重量	150KG

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