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TS3000 Probe System 半自动300mm探针台测试系统

TS3000ProbeSystem半自动300mm探针台测试系统•模块量测-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV•高温度范围-60°C至300°C•大的灵活性•具有特定设计的电缆接口的与功能测试仪的小电缆距离

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  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-11-04
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TS3000 Probe System 半自动300mm探针台测试系统



• 模块量测 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV
• 高温度范围-60°C至300°C
• 大的灵活性
• 具有特定设计的电缆接口的与功能测试仪的小电缆距离,可实现更好的测量方向性
• 小的卡盘到工作台面高度可实现佳mmW和内部节点探测
• 通过在内部集成热系统的冷却器,将系统占地面积降至低


结合了MPI的IceFreeEnvironment™,TS3000可以在-60至300°C的宽温度范围内对300mm的晶片进行微型定位器和(或)探针卡测试,并具有在胶片框架上进行探测的附加功能。


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