新升级的美国ALLIED MultiPrep高精密研磨系统，采用7寸LCD触摸屏完成所有操作，研磨系统精度能够达到1um，适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的前处理 MultiPrep™系统适用于高精密（金相，SEM，TEM，AFM等）样品的半自动准备加工。

Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载 Bruker的电容传感技术，继承了市场的一批商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。特点的可互换传感技术，实现了更

1、 设备组成以及主要功能少子寿命测试仪WCT-120包括如下部分：1）带有涡电流感应器的样品台，2）带有红外滤光片的程控闪光灯光源系统，3）内置WCT-120软件以及NI采集卡的电脑一套，4）用于信号传输的信号盒，5）程控的电源供应器FPS-300，5）连接各个硬件的连接线等Suns-Voc包括如下部分：1） 放置样品的测量台，2）带有中性滤光片的程控闪光灯。

BLS-I/BCT-400少子寿命测试仪●非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命●涡电流法量测技术符合SEMI的PV13标准●相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更*的少子寿命测试仪●Wafer厂品质监控必*量测设备，拥有广泛的客户群。

波诱导式等离子芯片开封系统 ---- PlasmaEtch无论是传统的金线样品，还是样品都采用铜线或银线，PlasmaEtch都能提供安全可靠的蚀刻。